Uncomressing Linux...done,booting the kemel.
Boot-
DRAM Channel A Calibration.
DRAM Input DQS Calibration fail!
DRAM Channel B Calibration.
HW Byte 4:DQS(23~50) ,Size 28,Set 23,Hw_ Set 38.
HW Byte 5:DQS(21~44), Size 24,Set 29,Hw_ Set 38.
HW Byte 6:DQS(21~51), Size 31,Set 33,Hw. _Set 39.
HW Byte 7:DQS(18~48), Size 31,Set 30,Hw_ Set 35.
在8K93机芯中,A组DDR的位号为U20、U21,B组DDR位号为U16、U17。根据第3.4行打印信息分析,主IC与A组DDR未正常通讯。测DDR供电正常,接下来测DDR与主IC相关引脚对地电阻,排阻RN35中一路阻值为无穷大。拆下RN35测量,发现RN35损坏。更换RN35后试机,故障排除。
例2:不开机。分析检修:按“例1”所述方法检测,其开机打印信息与.上例同。检测DDR与主芯片相关引脚对地电阻,发现RN25中一路阻值异常。将RN25拆下,测量DDR与主IC各过孔的阻值,发现U20(DDR)异常,怀疑U20损坏,更换U20后试机,故障排除。
例3:不开机。分析检修:该机打印信息见“例1”。检测DDR供电正常,DDR与主IC相关引脚对地电阻无异常,判断主IC虚焊或损坏,更换主IC后试机,故障排除。
例4:不开机。分析检修:该机打印信息见“例1"。检测DDR供电,发现R337处的参考电压约为0.25V,低于正常电压0.75V。拆下R337检测,正常。怀疑R337外围电路有短路或漏电点。拆下与此相关的电容C339后,输出电压恢复正常,故障排除。
例5:不开机。分析检修:查看开机打印信息,无信息显示,怀疑NAND FLASH软件数据丢失。烧写串口程序,工具提示不识别,怀疑FLASH损坏。将其换新后烧写,故障依旧,怀疑主IC损坏,更换主IC后故障却依旧。最后更换晶振后试机,故障排除。
例6:死机。分析检修:检查主板的各组供电均正常,怀疑软件数据丢失。尝试升级软件,发现软件不能正常升级,怀疑NAND FLASH损坏,换新后能烧入引导程序,但主程序还是不能正常升级,怀疑主芯片损坏,将主芯片换新后故障排除。
例7:不开机。分析检修:检测主板上的各组供电均正常。查看该机的开机打印信息,显示如下:
OK
Starting Kernel...
Uncompressing Linux...
Compressed data violation
-- System halted
根据此打印信息分析,判断软件有故障。升级引导程序与主程序,故障依旧,怀疑NAND FLASH损坏,将其换新后烧入引导和主程序,开机正常。
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