案例一、不开机

分析检修：首先检查是否存在缺件或元件脱落，经检查没有元件脱落，测量5V、12V、24V输出正常，开机信号电压为高电平，CPU供电3.3V正常，测CPU内核供电1.2V，只有0.2V，电压很低，怀疑DC/DC变换芯片U9输出有短路，测其输出端对地电阻，只有50欧左右（正常为500欧），断开L1（与主芯片相连）后，测U9输出端对地电阻恢复正常，怀疑主芯片UM1（MT5505）损坏，更换UM1后，内核供电恢复1.2V，故障排除。

总结：对于“不开机”故障，首先检测主芯片的关键点电压，然后再烧写引导程序，若还是不开机，则要再升级主程序，本例故障是先通过检测主芯片供电而发现主芯片损坏的。 


案例二、不开机

分析检修：对于“不开机”故障，首先，检查主芯片、DDR、E2PROM等主要供电，然后检查复位电路是否正常，接着检查晶振电路是否起振正常，再接检查程序存储器、用户存储器及总线电压是否正常。在维修此板时，测检上述电压均正常，连接串口打印信息工具，发现无任何打印信息，怀疑引导程序故障，重新烧写引导程序，升级工具无法与NAND FLASH正常连接，烧写引导程序失败，故怀疑NAND FLASH损坏，更换新的NAND FLASH，并成功烧写引导程序，开机，用U盘升级主程序，故障排除。

总结：本例故障通过连接串口查看打印信息，发现引导程序故障，很快发现NAND FLASH损坏。 


附：创维8K55机芯电路原理图.pdf