笔者见过一篇使用MF4指针式万用表测量Tnp—Switch器件的文章，该文指出“用黑表笔接源极，红表笔分别接控制极和漏极，通过测量漏源的直流电阻和源极与控制极的直流电阻来判断被测Top—Switch器件的好环和性能。”我认为这种测试方法不行。不错，好的Top—Switch器件，所测出的结果的确是和该文提供的数据一致，但是，却不能说明被测Top—Switch器件是好的。 
    笔者从Tnp—Switch器件挑选中总结了一套较为可靠的测量方法，供大家参考。 
    第一步：Top—Switch器件的好坏测量 
    1．使用数字万用表的二极管测量挡位，红表笔接源极，黑表笔分别接控制极和漏极，好的Top—Switch器件，数字万用表所显示的数字应该和该表测量一个正偏硅二极管(比如1N4007)所显示的数字接近。然后，黑表笔接源极，红表笔分别接控制极和漏极，好的Top—switch器件，数字万用表所显示的数字应该和该表测量一个反偏硅二极管的显示一样(也就是说呈开路状态)。否则，说明被测Top-Switch器件已经损坏。结论是，未损坏的Top—Switch器件，源极和控制极以及源极和漏极，外在表现均为一个PN结。 
    2．仍然使用数字万用表，把测量挡位切换到100k以内的电阻挡(如200Ω挡位，20k挡位等)，先红表笔接源极，黑表笔分别接控制极和漏极。然后黑表笔接源极，红表笔分别接控制极和漏极，数字万用表所显示的数字应该均为无穷大，也就是说，直流电阻均应在100k以上，否则说明被测Top—Switch器件已经损坏。 
    第二步：性能测试 
    换用指针式万用表，挡位切换到电阻挡的“×1”挡，黑表笔接源极，红表笔分别接控制极和漏极，性能好的Top-Switch器件，所测得的直流电阻均为15Ω左右，否则，说明被测Top—Switch器件性能不良。 
    使用数字万用表和使用指针式万用表测量Top—switch器件的漏、源直流电阻值以及源极与控制极的直流电阻值，结果相差十万八千里!这和指针式万用表和数字式万用表的工作原理有关，笔者就不赘述了。笔者从拆机下来的一大堆Top—Switch器件中挑选可用的，证明用此法测量器件的好坏和性能非常准确。 
    最后，笔者提供一个测量集成电路的通用方法。使用数字万用表的二极管测试挡，红表笔接该集成电路的“地”引脚，黑表笔接被测引脚，此时数字万用表所显示的数字和测试二极管正偏时所显示的数字大致相当(比如在3位半显示的数字万用表上，绝大多数显示在500～750Ω之间)，然后把黑表笔接“地”引脚，红表笔接被测引脚，这时候数字万用表所显示的数字应该大于前一次测量所显示的数据或者为无穷大(比如在三位半显示的万用表上，绝大多数显示应该在1000Ω以上)。如果该集成电路各个引脚相对于“地”引脚的测试数据满足以上两点，基本可以判断该集成电路是好的。道理很简单，因为集成电路的最基本的单元是PN结(集成电路中的电阻、电容等，实际上都是使用PN结模拟的)，集成电路各引脚对“地”的外在表现应该和PN结类似，而且，这个外在等价的PN结对“地”应该是反偏而不是正偏(如果正偏，该引脚就和“地”没有太大区别了)。笔者多年来一直使用该法测量集成电路，事实证明很实用。笔者认为测量集成电路，不宜使用没有二极管测量挡位的指针式万用表，否则很容易误判。