例1:47E860A型机(8A10机芯)，显示开机画面后自动重启。分析检修:此故障原因是前期的软件不稳定，用后期软件升级即可。

       例2:42L28RM型机(8G28机芯)，不开机。分析检修:经检测发现，主板各供电电压均正常，但上屏电压为0V，这可能和系统的运行程序有关。拆下SPI芯片，重新烧写程序，装上后测得屏供电和LVDS信号正常，但开机画面没有字符(蓝屏)。根据以前的维修经验，这种现象是DDR与主芯片通讯异常所致。用万用表的二极管挡测试DDR与主芯片之间的排阻，发现RN15损坏。更换RN15后故障排除。提示:此机易出现蓝屏故障，其原因有以下几点:(1)程序异常;(2)DDR损坏;(3)排阻坏或漏电(很多板上的排阻都涂有硅胶，长时间后排阻易变质)。

       例3:42L02RF型机(8G29机芯)，热机死机。分析检修:热机时测量各供电电压，发现内核、复位、总线电压均正常，但DDR供电的前一级供电偏高，在4V左右(正常电压在3.35V )。对这路供电进行排查，发现R353、C381异常，换新后试机，故障排除。

       例4:55E550E型机(8K50机芯)，不开机。分析检修:将机芯板连接电脑，查看打印信息显示如下:

       根据以上信息得知:主控系统与DDR之间的通讯不良。测得DDR供电与基准电压都正常，外围也没有元件损坏。更换DDR后，打印信息恢复正常，故障排除。

       例5:50E550D型机(8K50机芯)，不开机。分析检修:查看打印信息，无打印信息显示;测试芯片的供电也都正常。检查主板的工作条件，测得各供电正常，复位电压只有2.25V ( 正常电压为3.3V)。主芯片U1的复位端外接有两只三极管QM2.QM3和两只电容。把QM2.QM3一起更换后试机，故障排除。提示:QM2、QM3 必须一起更换， 若只换一只，故障易复发。另外，若U1损坏，也会造成复位电压偏低。

       例6:42E680E型机(8K55机芯)，出现开机画面后死机，随后自动重启，如此反复。分析检修:怀疑程序异常，用u盘升级后，可以开机，约10分钟后故障重现。此时用手摸主芯片，发现温度很高。更换主芯片后试机，故障排除。提示:该机易出现死机、自动关机、不开机等故障，原因多为主芯片损坏，或者热机后过孔开路。

       例7:55E680F型机(8K55机芯)，不开机。分析检修:通电试机，发现RW2冒烟，说明有短路存在，且极可能是主芯片内部短路。更换主芯片后故障依旧。5V经过电阻RW2限流，再经U12转换，输出3.3V给功放、EMMC、EEPROM.SD卡等供电，测得3.3V短路，将负载的供电电感都断开，发现还是短路，判断U12及外围元件有问题，更换电容CB41后故障排除。

       例8:32E680F型机(8K55机芯)，不开机。分析检修:查看该机打印信息，显示如下:

       根据以上信息得知，DDR检测失败。检查DDR供电、基准电压均正常，更换主芯片后试机，故障排除。总结:本例故障在检修时借助打印信息进行辅助判断比较直观，还有一部分存在过孔问题。

       例9:42E510E型机(8S51机芯)，不开机。分析检修:查看该机打印信息，只显示"UART 115200"- -行。此现象说明系统没有工作，测各芯片的供电，3.3V.5V、1.1V均正常，而U117的供电输出只有0.75V(正常值为1.35V)。断开后级电感，故障依旧，判断U117电路有问题。检查U117的12V供电、使能信号、取样电阻都正常，判断U117损坏。更换U117后试机，故障排除。告例10:55E510E型机(8S51机芯)，二次开机困难。分析检修:查看该机打印信息，显示如下：

       RT_ 115200

      [AT][MB][start sb][0]

      AC_ ON

     AutoDQSO -[456789ABCD] [456789ABCDE]

     [23456789ABC][123456789ABC]-[Ox6798]

     AutoDQS1 -[456789ABC][56789ABC][23456789ABC][23456789AB]-[0x6788]

     BIST0-OK

     BIST1-OK_REU[AT][MB][start ub][308].....*中间部分省略Get MAC from ethaddr env

     MAC:

     根据上述信息分析得知，DDR检测正常，EMMC检测异常。测量各芯片的供电均正常，程序也没问题。用电阻法测得EMMC的两个偏置电阻对地有漏电现象，断开电阻R233、R235之间的铜箔，用跳线连接起来，如图1所示。通电试机，故障排除。